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现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδX;②电场干扰;③试品周围构

现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδX;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

A.正确

B.错误

正确答案是A

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